咨詢熱線

18923898569

當前位置:首頁  >  產品展示  >  失效分析設備  >  封裝工藝檢測設備

相關文章

Related Articles
  • ZEISS 光學微光顯微鏡
    ZEISS 光學微光顯微鏡

    emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點:具有優化的操作理念。$n擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統。 $n基于“向前看”理念的升級設計。

    更新時間:2022-08-22型號:訪問量:362
    查看詳情
  • 掃描電鏡
    掃描電鏡

    掃描電鏡 擁有高品質成像和先進分析功能的場發射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列 掃描電

    更新時間:2022-06-14型號:訪問量:373
    查看詳情
  • 芯片封裝焊接強度測試儀
    芯片封裝焊接強度測試儀

    芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

    更新時間:2022-08-18型號:訪問量:326
    查看詳情
  • 半導體場發射掃描電鏡
    半導體場發射掃描電鏡

    GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒,創下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節引擎是為方便您使用高分辨率成像 技術而特別定制的,即使要對敏感樣品進行超高分辨率的成像也是輕而易舉。 GeminiSEM 560 在任何工作條件下都能達到該系列的最高分辨率,突破了常規 浸沒式表面成像技術的上限。半導體場發射掃描電鏡

    更新時間:2022-06-14型號:訪問量:299
    查看詳情
  • 半導體光學顯微鏡和共聚焦顯微鏡
    半導體光學顯微鏡和共聚焦顯微鏡

    半導體光學顯微鏡和共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

    更新時間:2022-08-18型號:訪問量:343
    查看詳情
  • 晶圓光學檢測設備
    晶圓光學檢測設備

    晶圓探針臺,晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

    更新時間:2022-08-22型號:訪問量:350
    查看詳情
  • X射線檢測系統
    X射線檢測系統

    憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務 X射線檢測系統

    更新時間:2022-06-14型號:訪問量:300
    查看詳情
共 7 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
最好看的中文字幕2018